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电子科技大学 考研初试大纲
2024-08-23
1991
电子科技大学考研专业课大纲哪里找?考研的成功不仅仅取决于你的努力程度,还取决于你的策略和效率。有些研招院校会在官网发布考研初试、复试的大纲或者参考书目,根据官网发布的信息进行备考,可以事半功倍,以下是为大家整理的电子科技大学考研初试大纲:工程控制基础。
电子科技大学2024年硕士研究生招生考试初试自命题科目考试大纲
862 工程控制基础
一、总体要求
考察学生掌握《工程控制基础》的基本概念、基本理论和方法的程度,重点考察系统建模方法、方框图表达及化简方法、时域分析方法、时域性能指标、系统稳定性分析、系统稳态误差、根轨迹绘制及分析方法、频域分析的基本方法、奈奎斯特稳定性分析、相对稳定性指标等内容;理解掌握时域、根轨迹、频域校正的原理及方法。
二、内容
1)考试内容涵盖范围
① 系统数学模型:控制系统数学模型类别,相互关系及转化方法;实际控制系统建模方法;Laplace 变换及反变换方法,初值定理及终值定理;传递函数基本性质,方框图化简。
② 控制系统时域分析:一阶系统阶跃、斜坡、加速度信号输入时的时域分析;二阶系统阶跃信号输入时的时域分析;高阶系统分析方法;二阶系统的性能指标;时域稳定性分析;系统的给定稳态误差,扰动稳态误差;系统的型次与系统稳态误差的关系;系统的静态误差系数;减少或消除系统稳态误差的方法;通过添加环节的方式进行系统校正,满足给定的性能指标要求。
③ 根轨迹分析:根轨迹概念,本质;根轨迹方程,幅值条件,相角条件;根轨迹绘制规则;根轨迹分析,利用根轨迹分析稳定性、快速性、准确性,通过添加开环零点与开环极点的方式进行系统校正;参数根轨迹,零度根轨迹。
④ 控制系统频域分析:频率特性定义;表达方式:幅频+相频,实频+虚频,奈奎斯特图,伯德图;开环系统伯德图绘制及分析;开环系统奈奎斯特图绘制及分析;奈奎斯特稳定判据及应用;相对稳定性,稳定裕量的计算;最小相位系统;奈奎斯特图与伯德图之间的关系。
⑤ 系统校正:系统校正方法分类,利用频率分析法进行性能指标调整。
完整内容见:https://yz.uestc.edu.cn/info/1054/3264.htm
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